機(jī)器視覺(jué)光源是怎么分類的

來(lái)源：admin 瀏覽：14807 發(fā)布日期：2023-04-04【大 中 小】

　　機(jī)器視覺(jué)光源是怎么分類的

　　一、機(jī)器視覺(jué)光源按樣式通?？煞譃橐韵聨最?

　　1、環(huán)形光源

　　環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合，更能突出物體的三維信息;高密度LED陣列，高亮度;多種緊湊設(shè)計(jì)，節(jié)省安裝空間;解決對(duì)角照射陰影問(wèn)題;可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻擴(kuò)散。使用領(lǐng)域:PCB基板檢測(cè)，IC元件檢測(cè)，顯微鏡照明，液晶校正，塑膠容器檢測(cè)，集成電路印字檢查

　　2、背光源

　　用高密度LED陣列面提供高強(qiáng)度背光照明，能突出物體。的外形輪廓特征，尤其適合作為顯微鏡的載物臺(tái)。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源，能調(diào)配出不同顏色，滿足不同被測(cè)物多色要求。使用領(lǐng)域:機(jī)械零件尺寸的測(cè)量，電子元件、IC的外型檢測(cè)，膠片污點(diǎn)檢測(cè)，透明物體劃痕檢測(cè)等。

　　3、條形光源

　　條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測(cè)物側(cè)重考慮的光源;顏色可按照需求搭配，自由組合;照射角度與安裝隨意可調(diào)。使用領(lǐng)域:金屬表面檢查，圖像掃描，表面裂縫檢測(cè)，LCD面板檢測(cè)等。

　　4、同軸光源

　　同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影，從而降低干擾;部分采用分光鏡設(shè)計(jì)，降低光損失，提高成像清晰度，均勻照射物體表面。使用領(lǐng)域:系列光源較適宜用于反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè)，芯片和硅晶片的破損檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，包裝條碼識(shí)別。

　　5、AOI專用光源

　　不同角度的三色光照明，照射凸顯焊錫三維信息;外加漫射板導(dǎo)光，降低反光;不同角度組合;使用領(lǐng)域:用于電路板焊錫檢測(cè)。

　　6、球積分光源

　　具有積分效果的半球面內(nèi)壁，均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線，使整個(gè)圖像的照度十分均勻。使用領(lǐng)域:合于曲面，表面凹凸，弧形表面檢測(cè)，或金屬、玻璃表面反光較強(qiáng)的物體表面檢測(cè)。

　　7、線形光源

　　超高亮度，采用柱面透鏡聚光，適用于各種流水線連續(xù)檢測(cè)場(chǎng)合。使用領(lǐng)域:陣相機(jī)照明專用，AOI專用。

　　8、點(diǎn)光源

　　大功率LED，體積小，發(fā)光強(qiáng)度高;光纖鹵素?zé)舻奶娲?，尤其適合作為鏡頭的同軸光源等;高效散熱裝置，大大提高光源的使用壽命。使用領(lǐng)域:適合遠(yuǎn)心鏡頭使用，用于芯片檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，晶片及液晶玻璃底基校正。

　　9、組合條形光源

　　四邊配置條形光，每邊照明獨(dú)立可控;可按照被測(cè)物要求調(diào)節(jié)所需照明角度，適用性廣。使用案例:CB基板檢測(cè)，IC元件檢測(cè)，焊錫檢查，Mark點(diǎn)定位，顯微鏡照明，包裝條碼照明，球形物體照明等。

　　10、對(duì)位光源

　　對(duì)位速度快;視場(chǎng)大;精度高;體積小，便于檢測(cè)集成;亮度高，可選配輔助環(huán)形光源。使用領(lǐng)域:VA系列光源是全自動(dòng)電路板印刷機(jī)對(duì)位的專用光源。

　　二、機(jī)器視覺(jué)光源可分為可見(jiàn)光和不可見(jiàn)光：

　　常用的幾種可見(jiàn)光源有LED燈、螢光燈、鹵素?zé)?光纖光源)、特殊光源。

　　1、LED 燈：

　　使用壽命約10000-30000小時(shí)。

　　可以使用多個(gè)LED達(dá)到高亮度，同時(shí)可組合不同的樣式;

　　響應(yīng)速度快，波長(zhǎng)可以按照用途選用，制成不同的顏色。

　　2、螢光燈：

　　使用壽命大約1500-3000小時(shí);

　　優(yōu)點(diǎn)：擴(kuò)散性好、適合大面積均勻照射;

　　缺點(diǎn)：響應(yīng)速度慢，亮度較暗。

　　3、光纖鹵素?zé)簦?/p>

　　使用壽命大約1000小時(shí);

　　優(yōu)點(diǎn)：亮度高;

　　缺點(diǎn)：響應(yīng)速度慢，幾乎沒(méi)有光亮度和色溫的變化。