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環(huán)形光源
環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合,更能突出物體的三維信息;高密度LED陣列,
高亮度;多種緊湊設(shè)計,節(jié)省安裝空間;
解決對角照射陰影問題;可選配漫射板導(dǎo)光,光線均勻擴(kuò)散。
應(yīng)用領(lǐng)域: 環(huán)形光源:PCB基板檢測,IC元件檢測,顯微鏡照明,液晶校正,塑膠容器檢測,集成電路印字檢查
條形光源
應(yīng)用較廣泛的光源,條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測物的推薦光源;顏色可憑據(jù)需求搭配,自由組合;照射角度與安裝隨意可調(diào)。
應(yīng)用領(lǐng)域: 金屬表面檢查,圖像掃描,表面裂縫檢測,LCD面板檢測等。
背光源
用高密度LED陣列面提供高強(qiáng)度背光照明,能突出物體的外形輪廓特點(diǎn),尤其適用于作為顯微鏡的載物臺。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源,能調(diào)配出不同顏色,滿足不同被測物多色要求。
應(yīng)用領(lǐng)域: 機(jī)械零件尺寸的測量,電子元件、IC的外型檢測,膠片污點(diǎn)檢測,透明物體劃痕檢測等。
同軸光源
同軸光源能夠消除物體表面不平整引起的陰影,從而降低干擾;部分采用分光鏡設(shè)計,降低光損失,提升成像清晰度,均勻照射物體表面。
應(yīng)用領(lǐng)域: 系列光源適宜用于反射度極高的物體,如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測,芯片和硅晶片的破損檢測,Mark點(diǎn)定位,包裝條碼識別。
線型光源
超高亮度,采用柱面透鏡聚光,線陣陣相機(jī)照明專用,適用于種種流水線連續(xù)檢測場合。
應(yīng)用領(lǐng)域: 陣相機(jī)照明專用,AOI專用。
點(diǎn)光源
大功率LED,體積小,發(fā)光強(qiáng)度高;光纖鹵素?zé)舻奶娲?,尤其適用于作為鏡頭的同軸光源等;可配合遠(yuǎn)心鏡頭利用,高效散熱裝置,大大提升光源的利用壽命。
應(yīng)用領(lǐng)域: 適用于遠(yuǎn)心鏡頭利用,用于芯片檢測,Mark點(diǎn)定位,晶片及液晶玻璃底基校正。
球積分光源
具有積分效果的半球面內(nèi)壁,均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線,使整個圖像的照度十分均勻。
應(yīng)用領(lǐng)域: 合于曲面,表面凹凸,弧形表面檢測,或金屬、玻璃表面反光較強(qiáng)的物體表面檢測。
組合條形光源
四邊配置條形光,每邊照明獨(dú)立可控;可憑據(jù)被測物要求調(diào)整所需照明角度,適用性廣。
應(yīng)用領(lǐng)域: CB基板檢測,IC元件檢測,焊錫檢查,Mark點(diǎn)定位,顯微鏡照明,包裝條碼照明,球形物體照明等。
(1)顏色
常用光源顏色集中在可見光范圍,主要有白光(復(fù)合光)、紅色、藍(lán)色、綠色,另外紅外光也比較普及,而紫外光由于各種原因,應(yīng)用較少;
(2)外形
各廠家會根據(jù)不同光源外形特性進(jìn)行分類,也是目前的主流分類,比如環(huán)形光源、環(huán)形低角度光源、條形光源、圓頂光源(碗光源/穹頂光源)、面光源等;
(3)工作原理/特性
不同的應(yīng)用方式或者原理進(jìn)行分類,主要有無影光源、同軸光源、點(diǎn)光源、線光源、背光源、組合光源以及結(jié)構(gòu)光源等。
背部光打光技巧
背部打光是指將光源放置在被測物體的后方,用于凸顯產(chǎn)品外形輪廓,可以在明亮的背景下創(chuàng)建物體的深色輪廓。
常見應(yīng)用于檢測是否存在孔洞和間隙、邊緣檢測、尺寸測量等需求。
可選用背光源進(jìn)行打光,其中背光源主要分以下三類:
藍(lán)色背光源:波長較短,穿透性弱,一般用于檢測透明產(chǎn)品,如玻璃、透明薄膜等的尺寸檢測、瑕疵檢測。
紅外背光源:波長較長,穿透性好,一般用于深色半透明材質(zhì)的穿透,如深色的口服液、深色液體、深色的半透明皮革檢測。
白色背光源:通用性較好,相對亮度高,適用于于大多數(shù)應(yīng)用場景。
背光源在藥品瓶口尺寸檢測中的應(yīng)用
背光源在螺絲尺寸檢測中的應(yīng)用