環(huán)形ccd光源

環(huán)形光源 siaote 2023-04-12 07:18 211 2
視覺光源定制

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沖片時(shí)如何正確識(shí)別缺陷的影像,表面幾何影響和為缺陷影像

本發(fā)明涉及一種表面缺陷檢測(cè)方法,尤其涉及通過拍攝多個(gè)圖像檢測(cè)表面缺陷的方法。

背景技術(shù):

缺陷檢測(cè)通常是指對(duì)物品表面缺陷的檢測(cè),目前缺陷檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用最多的有金屬表面、玻璃便面、紙張表面、電子元器件表面等對(duì)外觀有嚴(yán)格要求又有明確指標(biāo)的物品。表面缺陷檢測(cè)是采用先進(jìn)的機(jī)器視覺檢測(cè)技術(shù),對(duì)工件表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進(jìn)行檢測(cè)。通常的表面缺陷檢測(cè)會(huì)采用CCD鏡頭拍攝工件表面獲取圖像,然后在圖像中識(shí)別出來各種缺陷。在對(duì)表面進(jìn)行拍照的時(shí)候,需要有光源照射,而一般情況下,光源、攝像頭和工件都是相對(duì)固定的,對(duì)于工件表面上的某一些方位上的某些缺陷可能會(huì)光源的位置不佳的原因而在拍攝的圖像中不會(huì)明顯的呈現(xiàn),容易出現(xiàn)漏檢的情況,有待改進(jìn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于為克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,而提供一種表面缺陷檢測(cè)方法,使得表面的缺陷在圖像中更加明顯呈現(xiàn),提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用一種表面缺陷檢測(cè)方法,包括以下步驟:攝像頭每次拍攝工件的待檢測(cè)表面時(shí),光源從不同角度照射工件的待檢測(cè)表面;將每次拍攝所得圖像合成一張圖像;圖像合成后形成一張最終圖像,在最終圖像上識(shí)別出表面缺陷。

其中,光源為環(huán)形光源,環(huán)形光源可分為若干段可單獨(dú)發(fā)光的獨(dú)立光源;或者,若干個(gè)獨(dú)立光源圍成一個(gè)環(huán)形光源。光源設(shè)在攝像頭與工件之間,攝像頭的鏡頭穿過光源的中空部分并指向工件待檢測(cè)表面。

或者,光源可均勻分成8段可單獨(dú)發(fā)光的獨(dú)立光源,攝像頭拍攝工件的待檢測(cè)表面8次,每次由不同的獨(dú)立光源發(fā)光照射。

另一種情形,光源固定,每次拍照后,攝像頭與工件同步同軸轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)角度,再進(jìn)行下一次拍照,直至最后一次拍照。為了得到更佳效果,每次拍照后,攝像頭與工件同步同軸轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)相同的角度。

另一種情形,攝像頭與工件固定,每次拍照后,光源圍繞工件轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)角度,再進(jìn)行下一次拍照,直至最后一次拍照。為了得到更佳效果,每次拍照后,光源圍繞工件轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)相同的角度。

在對(duì)一個(gè)工件的待檢測(cè)表面進(jìn)行拍攝成像并進(jìn)行圖像合成時(shí),可以有兩種方式:從第二次拍照開始,每次拍照所得的圖像后均與上一張圖像進(jìn)行圖像合成;或者,在拍攝完所有圖像后,將所有圖像進(jìn)行一次性圖像合成。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是:

本發(fā)明通過在每次拍攝使用不同角度照射的光源,并將拍攝圖像合成,表面上的缺陷在不同圖像中會(huì)有不同的呈現(xiàn)度,多張圖像合成之后,表

ccd光源有哪幾種

ccd光源有:用500萬的相機(jī),拍長(zhǎng)邊為3.75mm的視場(chǎng),光源顏色選藍(lán)色為佳。

特點(diǎn):高密度排列LED,亮度大幅提高;獨(dú)特的散熱結(jié)構(gòu),延長(zhǎng)壽命,提高穩(wěn)定性;高級(jí)鍍膜分光鏡,減少光損失;成像清晰,亮度均勻。

應(yīng)用:此系列光源最適宜用于反射度極高的物體,如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè);芯片和硅晶片的破損檢測(cè),Mark點(diǎn)定位;包裝條碼識(shí)別。

傳真機(jī)應(yīng)用:

依其亮度的強(qiáng)弱在每個(gè)電容單位上形成強(qiáng)弱不等的電荷。傳真機(jī)或掃瞄儀用的線性CCD每次捕捉一細(xì)長(zhǎng)條的光影,而數(shù)碼相機(jī)或攝影機(jī)所用的平面式CCD則一次捕捉一整張影像,或從中擷取一塊方形的區(qū)域。

一旦完成曝光的動(dòng)作,控制電路會(huì)使電容單元上的電荷傳到相鄰的下一個(gè)單元,到達(dá)邊緣最后一個(gè)單元時(shí),電荷訊號(hào)傳入放大器,轉(zhuǎn)變成電位。如此周著復(fù)始,直到整個(gè)影像都轉(zhuǎn)成電位,取樣并數(shù)位化之后存入內(nèi)存。儲(chǔ)存的影像可以傳送到打印機(jī)、儲(chǔ)存設(shè)備或顯示器。

ccd檢測(cè)環(huán)形光源和條形光源哪個(gè)好

視覺檢測(cè)系統(tǒng)光源介紹:

同軸光源(OPT-CO系列)

特點(diǎn):高密度排列LED,亮度大幅提高;獨(dú)特的散熱結(jié)構(gòu),延長(zhǎng)壽命,提高穩(wěn)定性;高級(jí)鍍膜分光鏡,減少光損失;成像清晰,亮度均勻。

應(yīng)用:此系列光源最適宜用于反射度極高的物體,如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè);芯片和硅晶片的破損檢測(cè),Mark點(diǎn)定位;包裝條碼識(shí)別。

環(huán)形光源(OPT-RI系列)

特點(diǎn):環(huán)形光源提供不同角度照射,能突出物體的三維信息,有效解決對(duì)角照射陰影問題。高密度LED陣列,高亮度;多種緊湊設(shè)計(jì),節(jié)省安裝空間;可選配漫射板導(dǎo)光,光線均勻擴(kuò)散。

應(yīng)用:PCB基板檢測(cè);IC元件檢測(cè);顯微鏡照明;液晶校正;塑膠容器檢測(cè);集成電路印字檢測(cè);通用外觀檢測(cè)。

透明材質(zhì)ccd用什么光源最好看

對(duì)于透明材質(zhì)的CCD拍攝,使用背光光源最好。背光光源可以照亮透明材質(zhì)的背面,從而使其輪廓清晰可見。此外,背光光源可以使透明材質(zhì)的顏色更加鮮明,從而提高圖像的質(zhì)量。

在選擇背光光源時(shí),應(yīng)選擇光線均勻、亮度可調(diào)的光源。常用的背光光源有LED背光燈、冷陰極燈等。其中,LED背光燈具有亮度高、壽命長(zhǎng)、功耗低等優(yōu)點(diǎn),是一種較為常用的背光光源。

需要注意的是,在使用背光光源時(shí),應(yīng)將透明材質(zhì)放置在透明的平面上,以避免反射和折射對(duì)圖像的影響。此外,在拍攝時(shí)還應(yīng)注意光源和CCD的位置,以獲得最佳的拍攝效果。

ccd是在背光源情況下獲得圖片的嗎?

CCD獲取圖片是直接抓拍的

與光源是一起配合工作的,背光源只是為了使物體成像清晰便于CCD抓取圖片后的處理。背光源只是光源打光的一種而已,同類還有點(diǎn)光、環(huán)形光、面光等等

評(píng)論區(qū)

精彩評(píng)論
  • 2023-04-12 15:56:52

    表面的劃傷檢測(cè);芯片和硅晶片的破損檢測(cè),Mark點(diǎn)定位;包裝條碼識(shí)別。傳真機(jī)應(yīng)用:依其亮度的強(qiáng)弱在每個(gè)電容單位上形成強(qiáng)弱不等的電荷。傳真機(jī)或掃瞄儀用的線性CCD每次捕捉一細(xì)長(zhǎng)條的光影,而數(shù)碼相機(jī)或攝影機(jī)所用的平面式CCD則一次捕捉一整張影像,或從中擷取一塊方形的區(qū)域。一旦完成曝光

  • 2023-04-12 16:32:52

    。表面缺陷檢測(cè)是采用先進(jìn)的機(jī)器視覺檢測(cè)技術(shù),對(duì)工件表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進(jìn)行檢測(cè)。通常的表面缺陷檢測(cè)會(huì)采用CCD鏡頭拍攝工件表面獲取圖像,然后在圖

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