環(huán)形光源固定

本文目錄一覽：

• 1、沖片時如何正確識別缺陷的影像，表面幾何影響和為缺陷影像
• 2、京埔環(huán)形模組光源怎么按
• 3、機器視覺中所用到的同軸光源和其它光源的優(yōu)缺點，以及使用方法

沖片時如何正確識別缺陷的影像，表面幾何影響和為缺陷影像

本發(fā)明涉及一種表面缺陷檢測方法，尤其涉及通過拍攝多個圖像檢測表面缺陷的方法。

背景技術(shù)：

缺陷檢測通常是指對物品表面缺陷的檢測，目前缺陷檢測系統(tǒng)應(yīng)用最多的有金屬表面、玻璃便面、紙張表面、電子元器件表面等對外觀有嚴(yán)格要求又有明確指標(biāo)的物品。表面缺陷檢測是采用先進的機器視覺檢測技術(shù)，對工件表面的斑點、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進行檢測。通常的表面缺陷檢測會采用CCD鏡頭拍攝工件表面獲取圖像，然后在圖像中識別出來各種缺陷。在對表面進行拍照的時候，需要有光源照射，而一般情況下，光源、攝像頭和工件都是相對固定的，對于工件表面上的某一些方位上的某些缺陷可能會光源的位置不佳的原因而在拍攝的圖像中不會明顯的呈現(xiàn)，容易出現(xiàn)漏檢的情況，有待改進。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于為克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，而提供一種表面缺陷檢測方法，使得表面的缺陷在圖像中更加明顯呈現(xiàn)，提高檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用一種表面缺陷檢測方法，包括以下步驟：攝像頭每次拍攝工件的待檢測表面時，光源從不同角度照射工件的待檢測表面；將每次拍攝所得圖像合成一張圖像；圖像合成后形成一張最終圖像，在最終圖像上識別出表面缺陷。

其中，光源為環(huán)形光源，環(huán)形光源可分為若干段可單獨發(fā)光的獨立光源；或者，若干個獨立光源圍成一個環(huán)形光源。光源設(shè)在攝像頭與工件之間，攝像頭的鏡頭穿過光源的中空部分并指向工件待檢測表面。

或者，光源可均勻分成8段可單獨發(fā)光的獨立光源，攝像頭拍攝工件的待檢測表面8次，每次由不同的獨立光源發(fā)光照射。

另一種情形，光源固定，每次拍照后，攝像頭與工件同步同軸轉(zhuǎn)動一個角度，再進行下一次拍照，直至最后一次拍照。為了得到更佳效果，每次拍照后，攝像頭與工件同步同軸轉(zhuǎn)動一個相同的角度。

另一種情形，攝像頭與工件固定，每次拍照后，光源圍繞工件轉(zhuǎn)動一個角度，再進行下一次拍照，直至最后一次拍照。為了得到更佳效果，每次拍照后，光源圍繞工件轉(zhuǎn)動一個相同的角度。

在對一個工件的待檢測表面進行拍攝成像并進行圖像合成時，可以有兩種方式：從第二次拍照開始，每次拍照所得的圖像后均與上一張圖像進行圖像合成；或者，在拍攝完所有圖像后，將所有圖像進行一次性圖像合成。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是：

本發(fā)明通過在每次拍攝使用不同角度照射的光源，并將拍攝圖像合成，表面上的缺陷在不同圖像中會有不同的呈現(xiàn)度，多張圖像合成之后，表

京埔環(huán)形模組光源怎么按

安裝方式如下：

模組燈條已集成了恒流源電路,安裝時固定好燈條后,將輸入線通過開關(guān)與外電源線相聯(lián)即可。

機器視覺中所用到的同軸光源和其它光源的優(yōu)缺點，以及使用方法

1、同軸光源

同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影，從而減少干擾；部分采用分光鏡設(shè)計，減少光損失，提高成像清晰度，均勻照射物體表面。應(yīng)用領(lǐng)域:系列光源最適宜用于反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測，芯片和硅晶片的破損檢測，Mark點定位，包裝條碼識別。

2、背光源

用高密度LED陣列面提供高強度背光照明，能突出物體的外形輪廓特征，尤其適合作為顯微鏡的載物臺。紅白兩用背光源、紅藍多用背光源，能調(diào)配出不同顏色，滿足不同被測物多色要求。應(yīng)用領(lǐng)域:機械零件尺寸的測量，電子元件、IC的外型檢測，膠片污點檢測，透明物體劃痕檢測等。

3、條形光源

條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測物的首選光源；顏色可根據(jù)需求搭配，自由組合；照射角度與安裝隨意可調(diào)。應(yīng)用領(lǐng)域:金屬表面檢查，圖像掃描，表面裂縫檢測，LCD面板檢測等。

4、環(huán)形光源

環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合，更能突出物體的三維信息；高密度LED陣列，高亮度；多種緊湊設(shè)計，節(jié)省安裝空間；解決對角照射陰影問題；可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻擴散。應(yīng)用領(lǐng)域:PCB基板檢測，IC元件檢測，顯微鏡照明，液晶校正，塑膠容器檢測，集成電路印字檢查

5、AOI專用光源

不同角度的三色光照明，照射凸顯焊錫三維信息；外加漫射板導(dǎo)光，減少反光；不同角度組合；應(yīng)用領(lǐng)域:用于電路板焊錫檢測。

6、球積分光源

具有積分效果的半球面內(nèi)壁，均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線，使整個圖像的照度十分均勻。應(yīng)用領(lǐng)域:合于曲面，表面凹凸，弧形表面檢測，或金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測。

7、線形光源

超高亮度，采用柱面透鏡聚光，適用于各種流水線連續(xù)檢測場合。應(yīng)用領(lǐng)域:陣相機照明專用，AOI專用。

8、點光源

大功率LED，體積小，發(fā)光強度高；光纖鹵素?zé)舻奶娲?，尤其適合作為鏡頭的同軸光源等；高效散熱裝置，大大提高光源的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域:適合遠心鏡頭使用，用于芯片檢測，Mark點定位，晶片及液晶玻璃底基校正。

9、組合條形光源

四邊配置條形光，每邊照明獨立可控；可根據(jù)被測物要求調(diào)整所需照明角度，適用性廣。應(yīng)用案例:CB基板檢測，IC元件檢測，焊錫檢查，Mark點定位，顯微鏡照明，包裝條碼照明，球形物體照明等。

10、對位光源

對位速度快；視場大；精度高；體積小，便于檢測集成；亮度高，可選配輔助環(huán)形光源。應(yīng)用領(lǐng)域:VA系列光源是全自動電路板印刷機對位的專用光源。

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