熱門搜索關(guān)鍵詞:
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一.基本思路
?、倭私忭?xiàng)目需求,明確具體檢驗(yàn)內(nèi)容,比如外觀檢驗(yàn)、OCR、尺寸測(cè)量、定位識(shí)別等;
?、诓榭礄z驗(yàn)?zāi)繕?biāo)的材質(zhì)特性,分析目標(biāo)與背景的區(qū)別,找到二者之間成像的大差異;
?、墼儐?wèn)客戶有無(wú)限制的條件,比如產(chǎn)線光場(chǎng)、工作距離、光源大小、視野范圍等;
?、芨鶕?jù)具體情況,使用實(shí)際光源進(jìn)行反復(fù)測(cè)試,得到較好的圖像效果圖,也就是不錯(cuò)的光源方案。
一、環(huán)形光源:環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合,更能突出物體的三維信息;
1、高密度LED陣列,高亮度;
2、種緊湊設(shè)計(jì),節(jié)省安裝空間;
3、解決對(duì)角照射陰影問(wèn)題;
4、可選配漫射板導(dǎo)光,光線均勻擴(kuò)散。
使用領(lǐng)域:PCB基板檢驗(yàn),IC元件檢驗(yàn),顯微鏡照明,液晶校正,塑膠容器檢驗(yàn)等。
二、背光源:用高密度LED陣列面提供高強(qiáng)度背光照明,能突出物體。的外形輪廓特點(diǎn),尤其適合作為顯微鏡的載物臺(tái)。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源,能調(diào)配出不同顏色,滿足不同被測(cè)物多色要求。
使用領(lǐng)域:機(jī)械零件尺寸的測(cè)量,電子元件、IC的外型檢驗(yàn),膠片污點(diǎn)檢驗(yàn),透明物體劃痕檢驗(yàn)等。
對(duì)位光源:對(duì)位速度快;視場(chǎng)大;精度高;體積小,便于檢驗(yàn)集成;亮度高,可選配輔助環(huán)形光源。
使用領(lǐng)域:VA系列光源是全自動(dòng)電路板印刷機(jī)對(duì)位的專用光源。